从检测完整的晶圆 以识别TSV内的空洞,到扫描3D IC以进行焊料凸点计量,Comet Yxlon提供高科技X射线检测解决方案,为您的工艺开发和生产链中的关键环节带来额外的性能提升。
半导体市场瞬息万变,要想保持领先地位,就必须投资于全面的检测策略。我们基于Dragonfly AI 软件的 X 射线检测解决方案组合,能够为降低成本、缩短产品上市时间并提高良率提供关键支持。
无论您是在实验室中深入进行根本原因分析,还是在寻找能够无缝融入晶圆厂生产线的自动化解决方案,我们的X射线系统现已覆盖从晶圆 工艺到芯片封装等最关键的生产阶段。
集成电路封装:从传统封装到先进封装
随着对更小、更强大芯片需求的推动,微芯片封装在近年来发生了革命性的变化。在传统封装中,单个硅芯片通过引线键合或焊料键合(例如,使用350-500 µm大小的焊球)在同一平面上固定到基板上;而先进封装技术则允许利用硅基板和再分配层将多个芯片连接起来,并将其封装成单一电子器件。 这导致焊球尺寸进一步缩小(例如,50–100 µm的C4焊球和10 µm的微焊球),并采用三维排列方式,因此需要从计算机断层扫描(CT)和计算机层析成像(CL)所能提供的独特视角进行格外严谨的检测。
半导体领域的X射线技术:
它为何能带来革命性变革?
2.5D和3D X射线检测技术弥合了速度与可视性之间的差距——使半导体制造商无需采用破坏性方法,就能对器件的内部状况获得前所未有的深入了解。但这些技术究竟是如何工作的呢?
2.5D X射线
2.5D X射线通过融合多角度图像,提供类似深度的信息(即“伪3D”视图)。它能在无需承担3D技术全部计算成本的情况下提供更好的深度分辨能力,因此非常适合对速度要求较高的在线检测 。
该截图来自我们的TSV Insights X 2.5D软件。图中展示了一个晶圆 样品(来源:弗劳恩霍夫IZM-ASSID),其中所有TSV均经过处理,内部含有空洞。图中显示了每个TSV的分割结果(黄色)及其内部的空洞(红色)。
3D X射线(CT)
3D X射线(CT或计算机断层扫描)可对样品进行真实的体积图像重建。它使工程师能够对部件进行虚拟切片并检查每一层,从而以高精度揭示隐藏的内部特征——这对先进封装和失效分析至关重要。
CPU内部微凸起的3D X射线图像。由……拍摄CA20 并以Dragonfly 3D World 。
您在检验方面面临什么挑战?
前端:TSV 输入晶圆
通过在关键工艺步骤中实施X射线检测,提升您的晶圆 开发与量产效率——我们的检测解决方案专为分析完整的晶圆 、试片和晶圆而量身定制,无论是在实验室还是直接集成到晶圆厂生产线中,都能检测出TSV中的关键缺陷。
后端:
封装芯片中的焊料凸点
在芯片贴装工艺开发和生产过程中获取关键洞察——通过清晰呈现焊球内部亚微米级细节的图像,识别“枕头头”缺陷、焊球偏移、气孔等关键缺陷。
想找一份能带走的难忘回忆吗?
请在下方下载我们独家推出的半导体产品手册,其中简要介绍了我们的技术及其在半导体领域的潜在应用,涵盖从晶圆 质量检测到先进封装的全面3D分析。
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基于人工智能的洞察
供电Dragonfly
我们的Comet Yxlon检测系统配备了先进的3D可视化和分析软件。 Dragonfly ——一个Comet 品牌。作为一家植根于科学研究的创新型公司, Dragonfly 20年来一直处于人工智能发展的前沿。
他们的核心产品, Dragonfly 3D World ,利用基于机器学习的分割引擎,轻松地从图像中提取强大的定性和定量信息。总而言之, Dragonfly 和Comet Yxlon 专门针对半导体行业的挑战和自动化需求,开发了功能强大的软件包、工具和功能。
我们的半导体软件套件,如TSV Insights X 2.5D和CoS Insights X 3D,仅随Comet Yxlon系统提供。
从商用GPU的CT扫描中提取的2D切片。 Dragonfly 已采用技术手段来识别和分割焊球(黄色)、空隙(红色)和焊桥(紫色)。
应对各类挑战的系统与配置
CA20
CA20 现已作为面向先进封装的全自动检测解决方案推出,旨在提供最高分辨率的卓越 2D 和 3D 图像,并帮助快速识别焊球和垂直过孔(TSV)中的结构缺陷。
FF35 CT
FF35 CT 凭借其可选的双管配置,将前所未有的 CT 数据质量与极高的通用性相结合,特别是在实验室环境中。FF35 CTSEMI 拥有专门为半导体相关行业检测而开发的特定型号,并已通过 SEMI® S2-0818 和 SEMI® S8-0218 行业标准认证。
猎豹EVO 与美洲狮EVO
用于2D/2.5D、3D层析成像
以及计算机断层扫描成像的高分辨率、高度灵活的X射线系统。适用于传统封装
环境中的研发和近线 检测。我们的CheetahEVO Semi已通过SEMI® S2-0818和SEMI® S8-0218认证
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即将举行的活动
- SEMICON 中国
📆 2026年3月25日至27日
📍 上海新国际博览中心
🎪 2551号展位 - SEMICON 台湾
📆 2026年9月2日至4日
📍 台北TaiNEX 1&2展馆
🎪 展位号待定 - SEMICON 欧罗巴
📆 2026年11月10日至13日
📍 慕尼黑会展中心
🎪 展位号待定 - SEMICON 日本
📆 2026年12月9日至11日
📍 东京国际展览中心
🎪 展位号待定
利用X射线进行半导体检测(pdf)