コンピュータ断層撮影の精度を理解する

コンピュータ断層撮影の精度を理解する：

2021年6月15日 | ダーク・シュタイナー

同じ校正済みの測定器を使用すれば、測定対象物に関わらず同じ精度が得られると考える人もいるかもしれません。しかし、計測学はそれだけにとどまりません。ホワイトペーパー「測定の不確かさ」でその点が明らかになるでしょう。

同じ校正済みの測定器を使用すれば、測定対象物に関わらず同じ精度が得られると考える人もいるかもしれません。しかし、計測学はそれだけではありません。このホワイトペーパーでは、その点について詳しく説明します。「測定の不確かさ」は、測定対象物だけでなく、具体的な測定作業によっても影響を受ける可能性があります。

当業界では、計測技術を用いて特定の特性を測定し、規定の許容誤差と比較します。主な課題は、「特定のプロセスを用いて、特定の特性を許容誤差の範囲内に収まるように十分に正確に測定するにはどうすればよいか」ということです。最初のステップは、測定の不確かさを決定することです。2番目のステップは、その不確かさを許容誤差と比較し、そのプロセスが適切かどうかを判断することです。

精度と正確さ、そして両者の違いについてさらに深く掘り下げたい場合は、ダーク・シュタイナーが例、図、計算を用いて類似点と相違点を解説したホワイトペーパー全文をダウンロードしてください。

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最新の3つのニュース

ガラス越しに見る：先進パッケージング向けガラス貫通ビア（TGV）のX線検査

2026年6月22日 | ダニエル・スティックラー博士

ガラスは、先進的な半導体パッケージングの基板材料としてますます注目を集めています。その寸法安定性と電気特性により、大面積パネルや高密度相互接続構造の魅力的な基盤となっています。しかし、ガラス貫通ビア（TGV）を用いて電気接続をガラスを通して配線する場合、新たな検査上の課題が生じます。それは、関連する欠陥の多くが表面から見えなくなることです。Photomask Japan 2026では、ガラス基板とTGV構造に関する初のイメージング事例を発表しました。この結果は、エッチングされたガラスビアや金属化されたTGVの欠陥にX線イメージングによって非破壊的にアクセスできる方法、そして傾斜X線撮影、コンピュータラミノグラフィー、検出器の性能、AI支援解析がなぜ重要なのかを示しています。

CTスキャンを用いて、シュレースヴィヒ＝ホルシュタイン州のデュヴェンゼール湿原で新たな発見を掘り起こす。

2026年6月8日

今年の初め、私たちはフラウンホーファー個別化医療技術・工学研究所（Fraunhofer IMTE）およびライプニッツ考古学センター（LEIZA）と協力し、北ドイツ最古の墓として知られるシュレースヴィヒ＝ホルシュタイン州のデュヴェンゼー湿原で発掘されたオーロックスの頭蓋骨の中から、他に類を見ない発見をしました。

中学3年生のインターンシップ、CTスキャン、そして砂糖と塩を区別することを学習したAI

2026年2月12日 | ダニエル・スティックラー博士

最近、3週間の学生インターンシップ中にComet Yxlonでは、好奇心旺盛で意欲的な中学3年生の生徒を指導する機会がありました。彼女は（正当な理由から）X線装置を単独で操作することは許されていませんでした。そこで私たちは、実践的なデータ、実際の分析、そして明確な成果が得られるような、現実的なプロジェクトを設計しました。目標は、彼女がソフトウェアを自主的に操作しながら、X線画像処理とコンピュータ断層撮影の基礎を学ぶことでした。

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