高倍率
As inspection tasks become more challenging, the Xplorer Cube enables you to resolve small features down to a few μm with focal spot of 12 μm (JIMA resolution of 5 μm) at 8 W and a short FOD of < 11 mm allowing high magnification. This ensures even the most minute components can be thoroughly examined, leading to higher quality control and reliability in production.
均一な強度分布
均一な強度分布と対称性の高い焦点により、アーチファクトを抑えた一貫性のある高品質な3DおよびCT画像が得られ、検査の精度と信頼性が向上します。これらの特長により優れた画像性能が実現し、欠陥の特定が容易になるとともに製品の完全性が保証されます。
高出力
業界をリードする130 kVで65 Wの出力を誇るXplorer 130 Cubeは、PCBA、バッテリー、その他の電子部品の自動インライン2Dおよび3D検査に最適です。両軸で115°の広範な照射野をカバーするワイドビームにより、スループットを最大化して生産ラインの効率を高めることができます。Xplorer 130 Cubeの堅牢なパフォーマンスはさまざまな用途をサポートし、包括的で費用対効果の高い検査ソリューションを保証します。
コンパクトかつ信頼性の高い設計
一般的なフォームファクタを採用し、設置面積を最小限に抑えた完全統合型のX線モジュールであり、スペース要件を削減しながら検査品質を向上させます。この合理化された設計により生産ラインへの容易な統合が可能になる一方で、信頼性の高い長期的なパフォーマンスとメンテナンスフリーにより、稼働時間と運用効率が最大化されます。
ダイナミックフォーシング
個々のアプリケーションに合わせて解像度と出力を最適化できるため、変化する市場で勝ち抜くために必要な柔軟性がユーザーに提供されます。
Ethernet接続
お客様の用途に最適な方法でモジュールを操作できます。付属のGUIを使用するか、提供されているソフトウェアインターフェース仕様を利用してホストコントローラー経由でモジュールを制御可能です。Xplorer 130 Cubeにはインダストリー4.0の要件に対応する最新のEthernet接続が搭載されており、システムの将来への適合性を確保するとともに、充実した診断機能によってシステムのパフォーマンスを監視できます。