高倍率
As inspection tasks become more challenging, the Xplorer Cube enables you to resolve small features down to a few μm with focal spot of 12 μm (JIMA resolution of 5 μm) at 8 W and a short FOD of < 11 mm allowing high magnification. This ensures even the most minute components can be thoroughly examined, leading to higher quality control and reliability in production.
均一な強度分布
均一な輝度分布と高い対称性を持つ焦点スポットにより、アーチファクトを低減した一貫性のある高品質な3D画像およびCT画像が得られ、検査精度と信頼性が向上します。これらの特長は優れた画像性能に貢献し、欠陥の特定を容易にし、製品の完全性を確保します。
高出力
業界トップクラスの65Wを130kVで供給し、 Xplorer 130 Cubeは、PCBA、バッテリー、その他の電子部品の自動インライン2Dおよび3D検査に最適です。両軸で115°の広いビーム範囲と組み合わせることで、生産ラインの効率を最大限に高めることができます。スループット堅牢なパフォーマンスXplorer 130 Cubeは様々な用途に対応し、包括的かつ費用対効果の高い検査ソリューションを提供します。
コンパクトで信頼性の高いデザイン
完全に統合されたX線モジュール 人気の高い、最小限のフットプリントでフォームファクタスペース要件を削減し、検査品質を向上させます。この合理化された設計により、生産ラインへの容易な統合が可能になり、信頼性の高い長期的な性能とメンテナンスフリーにより、最大限の効果を発揮します。稼働時間 そして業務効率。
ダイナミックフォーカス
解像度と出力は個々のアプリケーションに合わせて最適化できるため、ユーザーは変化する市場で成功するために必要な柔軟性を得ることができます。
Ethernet 繋がり
モジュールの操作は、ご自身に最適な方法で行ってください。モジュールの制御は、付属のGUIを使用するか、提供されているソフトウェアインターフェース仕様を使用してホストコントローラ経由で行うことができます。 Xplorer 130 Cubeには、インダストリー4.0の要件をサポートする最新のイーサネット接続が搭載されており、システムの将来性を確保し、提供される包括的な診断機能によってシステムのパフォーマンスを監視することができます。