最新の生産ラインにおける品質管理の強化

Xplorerシリーズは、現代の生産環境における厳格な要求に応えるよう設計されており、効率的でコストパフォーマンスに優れた運用を実現します。高倍率と高解像度性能の組み合わせにより、極小部品の細部まで検査することが可能で、優れた品質管理と生産の信頼性を確保します。また、均一な強度の分布と対称的な焦点スポットにより、一貫した高画質の3D・CT画像を提供し、欠陥の特定をより簡単かつ正確に行うことができます。

Xplorerシリーズの詳細をご覧ください。

主な用途

• 電子機器／PCBA
• バッテリー
• 非破壊検査およびマイクロCT（有機材料、薄膜、金属、セラミックス、プラスチックなど）

最高解像度

FXEモジュールは、光学倍率とX線発生点から検査対象物までの短い距離によって高い光学倍率を実現し、極めて微細なディテールまで視認可能にします。

FXEシリーズの詳細をご覧ください。

主な用途

• 電子機器検査
• 回路基板のハンダ接合部 – PCBA
• ボールグリッドアレイ – BGA
• 集積回路 – IC
• ボンディングワイヤー
• 半導体パッケージおよびインターコネクト
• ウェハーレベルチップスケールパッケージ
• 微小電気機械システム - MEMS