現代の生産における品質管理の強化

のXplorer このシリーズは、現代の厳しい生産環境の要求を満たすように設計されており、効率的かつ費用対効果の高い運用を可能にします。 Xplorer このシリーズは、高倍率と高解像度機能の組み合わせにより、微細な部品まで詳細に検査できるため、優れた品質管理と生産の信頼性を実現します。均一な強度分布と対称的な焦点スポットにより、一貫性のある高品質な3D画像とCT画像が得られ、欠陥の特定がより簡単かつ正確になります。

詳細については、 Xplorer シリーズ。

代表的な用途

• 電子機器／プリント基板アセンブリ
• バッテリー
• 非破壊検査（NDT）およびマイクロCT、例：有機材料、薄膜、金属、セラミックス、プラスチックなど

最高解像度

のFXE このモジュールは、光学倍率による高い光学倍率と、X線発生源と検査対象物との間の短い距離によって、視認可能な最も微細なディテールを実現します。

詳細については、 FXE シリーズ。

代表的な用途

• 電子機器検査
• 回路基板（PCBA）のはんだ付け接合部
• ボールグリッドアレイ（BGA）
• 集積回路 – IC
• ボンディングワイヤー
• 半導体パッケージングおよび相互接続
• ウェハー-レベルチップスケールパッケージ
• マイクロ電気機械システム（MEMS）