グローバルセールス担当の新副社長、Andreea Vasiliuをご紹介します！ Andreeaは豊富な国際的営業およびリーダーシップの経験を有しており、Plasma Control Technologiesでの以前の役職を通じてCometを深く理解しています。同社での8年以上の在職期間中、彼女はいくつかのグローバルおよび地域の営業リーダーシップポジションを歴任し、直近ではEMEA営業ディレクターおよび真空キャパシタのグローバルディレクターを務めました。 2024年以降は、VAT GroupにてヨーロッパおよびRoWのゼネラルマネージャーを務めています。

エレクトロニクスの高性能化と先端パッケージング技術の複雑化に伴い、メーカー各社はスループットを低下させることなく、より微小な欠陥を検出するという課題に直面しています。光学式検査法では、高出力エレクトロニクス、チップレット、HBM、TGV（ガラス貫通電極）、先端3Dパッケージの内部にある埋め込み構造を捉えることができません。X線検査および自動X線検査（AXI）であれば必要な視認性が得られますが、高解像度と高透過力を追求すると、従来は処理速度が犠牲になっていました。マイクロフォーカスおよびナノフォーカスX線源技術における近年の進歩は、より高い光子束、改善されたコントラスト雑音比、そして高速なイメージングを実現することで、このトレードオフを克服しつつあります。本記事では、高電圧と高出力が不可欠でありながらマイクロスケールのイメージング維持が求められる高出力エレクトロニクス分野と、垂直統合やサブミクロン解像度による複雑化が複合する先端パッケージング分野における、こうした技術開発の動向を検証します。また、確実な欠陥検出を維持しながら、どのようにスループットの向上が達成できるかについて解説します。

パイプラインの現場では、X-rayシステムはカタログからではなく、溶接部に基づいて選定されます。パイプのサイズやアクセス性によって、作業員の検査方法が決まります。また、作業手順によって画像に写し出すべき内容が定められます。過酷な熱、重量、露光時間が日々の作業を左右します。機種選定を誤れば何時間ものロスが生じますが、適切に選定すれば、検査員が評価できる画像を無駄な遅延なく取得できるようになります。