纳米焦点模块
《FXE 》系列
最高分辨率
借助特征识别 (测量范围从500纳米到几毫米),您可以分析存在微小缺陷的各类产品。
FXE配备的聚焦光学系统 主动式聚焦系统,可在任何 kV 和功率设置下自动调节以获得最佳焦斑尺寸,使您能够对密度和特征尺寸各异的各类材料进行成像。
典型应用
- 转子叶片和涡轮叶片
- 钛和铝铸件
- 电池检查
- 传感器、继电器、保险丝和线圈
- 材料测试:塑料、陶瓷、钢材
借助特征识别 (测量范围从500纳米到几毫米),您可以分析存在微小缺陷的各类产品。
FXE配备的聚焦光学系统 主动式聚焦系统,可在任何 kV 和功率设置下自动调节以获得最佳焦斑尺寸,使您能够对密度和特征尺寸各异的各类材料进行成像。