现代生产中的质量控制强化

Xplorer系列专为满足现代生产环境的严苛要求而设计，可实现高效且具成本效益的运营。凭借高放大倍率和高分辨率的结合，Xplorer系列让您能够详细检测微小部件，从而确保卓越的质量控制和生产可靠性。该系统具有均匀的强度分布和对称的焦点，可提供一致的高质量3D和CT图像，使缺陷识别更加简便、准确。

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典型应用

• 电子/PCBA
• 电池
• 无损检测（NDT）和微型计算机断层扫描（Micro-CT），例如有机材料、薄膜、金属、陶瓷、塑料等

极高分辨率

FXE 模块通过光学放大功能以及X射线源与被检物体之间的短距离，能够呈现高光学放大倍率下可见的最细微细节。

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典型应用

• 电子产品检测
• 电路板上的焊点 – PCBA
• 球栅阵列——BGA
• 集成电路——IC
• 键合线
• 半导体封装与互连技术
• 晶圆-级芯片级封装
• 微机电系统 - MEMS