宣传册。FXE 系列
2024年11月26日
FXE 重新定义了用于无损检测（NDT）的微焦点 X射线技术，实现了精度、效率与耐用性的完美平衡。了解它如何无缝融入您的工作流程，提供可靠的性能和全球支持。
“您完全不必担心管体超负荷运行，因为FXE采用模块化设计，便于快速更换易损件——这使得FXE的总体拥有成本在同类产品中处于最低水平之一。”
迪尔克·施耐德，产品经理微焦点 。
透过表象，洞察全局
在为您的下一个微焦点 项目选定电子管时，人们往往容易只关注分辨率、速度和初始成本这三个固定参数——这些参数可以在各产品规格表和价格表中进行对比。但要为您的应用选择最合适的电子管，其中涉及的因素远不止画面质量这一方面。
找到完美的平衡
功率与分辨率、性能衰减与效率、灵活性与专注度之间的复杂相互作用——这些因素都会影响最终性能和总体成本。在设计过程中总需要做出权衡——而FXE 正是为了在保持宝贵的正常运行时间 以及系统使用寿命的同时，最大限度地发挥这些微妙组合的潜力而设计的。
放眼长远
再加上其平台独立性带来的无缝集成能力，以及作为业界公认领导者在咨询、服务和本地备件供应方面的全球支持，您将获得一套理想的解决方案——它充分考虑了您在规划下一个项目全局时需要关注的所有细节。
高功率密度——快速扫描
得益于更高的剂量率，您的X射线检测应用的产能 将因更快的扫描速度而得到提升。在高分辨率且焦斑较小的条件下，热负荷高度集中，需要高效散热以确保最大功率和合理的通量；而凭借FXE的高功率靶材，图像采集速度可比标准靶材快得多。
单管——多焦点
多焦FXE 模块凭借其可调节焦斑尺寸的能力，适用于广泛的检测任务和各种特征尺寸。这种多功能性是通过在分辨率与功率之间始终寻求最佳平衡来实现的：对于纳米级焦斑尺寸，采用另一种电子束交叉技术并增强电子束的缩小倍率；或者通过降低电子损耗来实现尽可能高的功率。 通常，单焦管的分辨率只能通过改变其功率来调整。多焦管则能针对需要最高分辨率或适宜焦斑下最高功率的情况优化设置，从而让您以一管的价格享受三管的优势。
纳米焦点 - 灵活的特征尺寸范围
借助500 nm至几毫米范围内的特征识别 ，您可以分析具有微小缺陷的各类产品。FXE的聚焦光学系统 可在任何kV和功率设置下自动调节，以获得最佳焦斑尺寸，从而让您能够观察密度和特征尺寸各不相同的各类材料。
透射式 管子的典型应用
- 电子产品检测
- 电路板上的焊接接头——PCBA
- 球栅阵列 - BGA
- 集成电路——IC
- 键合线
- 半导体封装与互连技术
- 晶圆-级芯片级封装 - WLCSP
- 微机电系统 - MEMS
- 光学元件
- 电池单体检测
- 电缆、导管和塑料制品
- 小动物成像
- 软组织成像与支架构建
- 医疗植入物和器械
稳定的图像质量
FXE凭借高达225 kV的穿透能力 高功率输出以及瞬时稳定性，使其成为电子、无损检测（NDT）及临床前应用中微CT应用的理想选择。FXE 模块支持长时间扫描，并通过“真实X射线强度”（TXI）技术确保图像质量始终如一。通过保持靶电流恒定，可消除电子提取、偏转和聚焦过程中的波动所带来的不良影响。稳定的X射线强度输出，进一步提升了特征识别 和分析性能。
较低的总体拥有成本
追求更高的速度和更高的分辨率也存在一个弊端：为了最大限度地提高产能 ，需要将工作温度设定在规定的服务温度之上，但高功率密度又会加速丝材和靶材的损耗。借助FXE 模块，既能发挥速度优势，又能通过更换低成本部件来降低维护成本。
反射式 管子的典型应用
- 航空航天与汽车
- 转子叶片和涡轮叶片
- 钛和铝铸件
- 电池检查
- 轻质金属
- 传感器、继电器、保险丝和线圈
- 材料测试：塑料、陶瓷、钢材
- 导管中的焊接接头
- 增材制造
- 计算机断层扫描
- 微系统与封装元件
- 医疗植入物和器械
- 制药、医疗和生物医学
模块化思维
凭借70余年的行业经验，我们深刻理解X射线模块 中所有组件无缝协作的重要性。这同样需要我们对客户所需的广泛应用场景拥有深厚的专业知识——并深知，对您而言，获得一款不仅能满足您的需求，而且易于配置、安装简便、且能确保快速投入使用的模块是多么重要。 正因如此，我们才能为您提供一款以贵公司成功为宗旨而打造的模块。
灵活性能提升性能
我们独特的模块化设计方案意味着，您可以快速更换部件以进行维护、维修或故障排查。由于部件可由操作员自行更换，因此无需耗费时间和费用派遣技术人员上门。虽然没有人能准确预知未来，但我们确信，保持灵活性能让我们更快地应对变化。我们的模块化系统可根据您的具体挑战进行配置。
电子产品检查
电子元件正变得越来越微型化。高分辨率、高倍率的X射线和计算机断层扫描（CT）检测模块为检查此类元件提供了必要的工具。
典型应用
- 多层和组装PCB检测
- 层、焊点缺陷、焊料空洞的可视化
- SMD 检测
- 键合线、焊点的测试
- 晶圆 检查
- 3D集成电路（IC）的测试
FXE 为您提供集精度、速度和可靠性于一体的解决方案。该产品在分辨率、功率和正常运行时间 之间实现了平衡，可确保您的系统持续高效运行。凭借全球技术支持的保障，它专为满足您最严苛的检测需求而设计。
请联系我们，探讨FXE 如何满足您下一个项目的需求。
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