FYNE 隆重登场:高端解决方案

2025年2月3日

FYNE 震撼登场——这是开放式 X 射线管技术领域的最新创新成果,专为高分辨率应用而设计。随着人工智能和智能制造重塑科技格局,制造商面临着越来越大的压力,既要提供更优质、更快捷的解决方案,又要优化产量并缩短产品上市时间。FYNE 正是我们应对这些挑战的解决方案,它重新定义了 X 射线检测的技术边界。快来了解它将如何彻底改变您的制造流程:

应对严苛检测任务的先进技术

随着技术重塑工业世界,市场对更小、性能更强的零部件的需求正以前所未有的速度增长。但随着产品复杂度的增加,制造商面临着新的挑战:管理热行为、提高生产良率以及确保设计可靠性。这些需求要求检测工具必须超越传统方法。

X射线技术在检测隐藏缺陷方面具有无与伦比的精度,使制造商能够提高良率并缩短产品上市时间。正因如此,我们很自豪地推出FYNE ——新一代适用于高分辨率应用的质量检测解决方案。

FYNE 从数字上看

最大分辨率400 纳米
HV系列60-160 千伏
X射线束角170°

克里斯·尼科尔森
产品经理

«我们致力于提供一种兼具精度、可靠性和效率的均衡解决方案。»  

“我们相信,FYNE 将树立市场新标杆,帮助客户充满信心地轻松实现目标。”»

是什么让FYNE 如此出色?

快速纳米级检测 

FYNE 不仅能可靠地实现 400 nm 分辨率,还搭配了优化的剂量设置,可在不牺牲效率的前提下,对最先进的样品进行精确检测。

出色的焦斑稳定性

可靠的纳米级成像离不开出色的光源稳定性。FYNE 模块可确保在长时间成像过程中焦斑稳定性极佳,这意味着您可以放心操作。

最大化正常运行时间 

先进的发射器技术使使用寿命比我们之前的开管 技术延长了10倍,可实现数千小时的不间断检测,并最大限度地提高运行效率正常运行时间 。

还有更多关于《FYNE 》的内容

FYNE 在应对高级检测挑战方面,它还能提供更多解决方案。立即联系我们,了解它如何满足您的具体需求并提升您的测试水平。

亲眼看看吧

伯恩哈德·施拉皮
产品开发总监

«借助FYNE ,我们成功让开管 卡组玩起来就像密封卡组一样,但同时又能进行卡组维护。»

FYNE 通过重新定义X射线技术的应用潜力,为高分辨率检测开辟了新的机遇。凭借其无与伦比的分辨率和可靠性,该技术直面工业检测中的复杂挑战。通过提高精度并消除生产瓶颈,FYNE 助力制造商实现更高的良品率和更快的上市速度。

无论您是应对设计复杂性,还是优化工作流程,这都是一款专为支持您的创新而打造的解决方案。

您的检测流程值得拥有如此强大的工具FYNE !

立即联系我们,了解FYNE 如何满足您的具体需求并提升您的工作流程。联系我们,共同探索无限可能。

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