FXE: 保持冷静，继续前进

为了突出外部冷却对成像性能的提升作用，我们测量了X射线焦斑位置随时间的变化情况。这些结果分别使用FXE 160 nano和FXE 160 nano CT模块，在微焦点 模式下获得。

从图1a中可以立即看出，在所有测量时间尺度上，冷却管与未冷却管之间的差异显而易见。圆圈的大小代表相应时间后焦斑漂移的空间范围，不同颜色表示不同的时间。冷却管可使焦斑漂移减少五倍，即在30分钟预热期后，总漂移量仅为2 µm（若包含预热期，则为6.5 µm）。 相比之下，未冷却管在预热30分钟后的位移值为18 µm（若计入预热时间则为31 µm）。

通过比较图1b和图1c中所示的测试图像，可以直观地看到X射线光斑位置稳定性提高所带来的优势。在未安装冷却套件的情况下拍摄的图像中，2 µm的点阵图案（紫色箭头）完全模糊不清。 由于焦斑位置发生较大偏移，1 µm的矩形块（黑色箭头）完全无法辨识。相比之下，经过冷却的电子管所获得的图像中，2 µm的特征被清晰分辨出来，而1 µm的特征也保持稳定。此外，即使对于10 µm这样较大的特征尺寸（红色矩形），特征之间的对比度也显著提高。

冷却效率提高的另一个优势是正常运行时间 的提升。对敏感组件进行冷却，可避免因降温而中断运行。这意味着无论在微焦点 还是纳米焦点 运行模式下，您都能更长时间地工作。